電氣長(zhǎng)度<1.3mm，射頻性能極佳 | QFN，QFP，SO多種封裝 |
>0.35mm 引腳間距 | 開(kāi)爾文測(cè)試設(shè)計(jì) |
出色的接觸電阻和電流承受能力 | 三溫測(cè)試能力(-55℃-150℃) |
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高頻性能優(yōu)越
適用于QFN，QFP，SO封裝類型
適用于手測(cè)，機(jī)測(cè)，老化等多種測(cè)試方式
自清潔設(shè)計(jì)，使用壽命長(zhǎng)
電氣長(zhǎng)度<1.3mm，射頻性能極佳 | QFN，QFP，SO多種封裝 |
>0.35mm 引腳間距 | 開(kāi)爾文測(cè)試設(shè)計(jì) |
出色的接觸電阻和電流承受能力 | 三溫測(cè)試能力(-55℃-150℃) |
引腳類封裝：QFP， SO，其他0.4mm及以上引腳間距
無(wú)引腳封裝.：QFN，其他0.4mm及以上引腳間距
Socket材料：Vespel SP-1，Plavis-N，MDS-100
彈簧材料：鈹銅及其他
產(chǎn)品引腳間距：0.4mm
探針彈力：25g-50g
測(cè)試行程：0.25mm-0.35mm
接觸電阻：50mΩ
電流承載能力： 2A持續(xù)電流
頻寬：>16.5GHZ@-1dB
電感：0.36nH
溫度范圍：-55℃-150℃
探針使用壽命：500K-1KK
測(cè)試插座使用壽命：>3KK
清潔頻率：100K-300K